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本申請涉及存儲，尤其涉及一種存儲器的校準方法及存儲設備。、隨著信息技術的飛速發(fā)展，存儲器作為數據存儲與處理的核心組件，其性能和可靠性對整個電子系統(tǒng)的運行至關重要。相關技術中，存儲器采用預設的固定工作參數進行運行。、然而，固定工作參數難以覆蓋不同硬件配置，使得不同批次的存儲器的運行狀態(tài)不穩(wěn)定...

本發(fā)明屬于集成電路領域，涉及基于通用互連總線的fpga內嵌射頻單元測試方法。、fpga(field?programmable?gate?array，現場可編程門陣列)已廣泛應用于產品設計和原型驗證中。fpga內部集成了可編程射頻、數字信號處理器、高性能存儲器、高速串行接口、pcie(per...

涉及一種存儲器和一種用于以改進的內部數據路徑分區(qū)來構建存儲器的方法。適用于但不限于減小電容同時改進存儲器存取時間和循環(huán)時間的數據路徑分區(qū)布置。、眾所周知，比特單元(bit?cell)或位單元(bitcell)是存儲器陣列的基本構建塊，繼而也是存儲器芯片的基礎構建塊。每個單元包括一個帶有存儲...

本實施方式涉及盤裝置以及盤裝置的控制方法。、在具有盤介質和頭的盤裝置中，在使頭從盤介質上浮的同時，用頭讀取記錄于盤介質的信息。在盤裝置中，頭上設置有加熱器，通過向加熱器供電，能夠調整因熱膨脹引起的頭的突出量，能夠控制頭從盤介質的上浮量。此時，希望適當地進行頭從盤介質的上浮量的控制。技術實現...

本發(fā)明涉及計算機零部件制造測試裝置，尤其涉及一種計算機硬盤批量測試裝置。、計算機零部件制造中硬盤的制造生產過程以及在銷售渠道上，需要通過測試機對硬盤進行功能檢測。、經檢索，公開號為cna的發(fā)明專利，名稱為一種固態(tài)硬盤測試箱，該專利裝置通過握持把手可以拉動存放板，并根據需要將存放板從滑行架內...

本申請涉及計算機，具體而言，涉及一種內存測試電路、內存控制器及微處理器架構。、在現代計算機技術中，內存用于數據緩存，實現與處理器之間的高效數據交互，內存的健康狀態(tài)直接決定計算機系統(tǒng)的整體表現和穩(wěn)定性，如果內存出現故障造成緩存數據丟失，不僅會導致系統(tǒng)整體性能下降，還可能引發(fā)各種錯誤，影響計算...

本文中所公開的至少一些實施例大體上涉及存儲器裝置，且更特定來說(但不限于)執(zhí)行存儲器管理操作(例如，損耗均衡)的存儲器裝置。、存儲器裝置可包含為主機系統(tǒng)(例如，服務器或其它計算裝置)提供電子數據存儲的半導體電路。存儲器裝置可為易失性或非易失性的。易失性存儲器需要電力來維持數據，且包含例如隨...

本公開內容總體涉及一種存儲單元以及包括該存儲單元的半導體器件，并且更具體地，涉及一種包括電化學存儲元件的存儲單元以及包括該存儲單元的半導體器件。、作為非易失性存儲器件的例子，電化學存儲器件正在興起。電化學存儲器件包括離子接收層和離子供給層，以及設置在離子接收層和離子供給層之間的電解質層。、...

本公開涉及用于數據存儲設備的自伺服寫入過程。特別地，本公開涉及使用數據存儲設備硬件電路，該數據存儲設備硬件電路可以包括用于二維磁記錄的讀取/寫入路徑，以在兩個磁頭上以交錯伺服圖案寫入伺服磁道。、自伺服寫入(ssw)過程是硬盤驅動器(hdd)的制造中的關鍵步驟，hdd廣泛用于各種計算設備中的...

本申請涉及半導體，尤其涉及一種基于信號時延的磁性存儲單元及裝置。、磁性隨機存取存儲器(magnetic?random?access?memory，mram)以磁隧道結(magnetic?tunneljunction，mtj)為核心器件，具有低功耗、非易失性存儲、寫入速度快等優(yōu)點。有望成為下...

本申請實施例涉及半導體領域，特別涉及一種存儲器。、存儲器通過字線和位線控制數據的讀取、寫入以及刷新。在進行數據讀取的過程中，感測放大器需要基于目標位線和互補位線的電壓差對讀取出來的數據進行放大，進而有效獲取存儲于存儲單元中的數據；其中，目標位線指的是與被激活字線對應的存儲單元連接的位線。、...

本公開的涉及的為半導體裝置，例如于半導體裝置中的快取的操作。、半導體裝置，例如存儲器裝置，變得越來越小及越快速。許多應用需求于支援更快的操作頻率，例如讀取頻率。然而，數據于在存儲器裝置于內部的元件間轉移時，例如暫存器、緩沖器、快取、輸入/輸出等，各元件的操作的時間需要相互的配合，造成了操作...

、本公開涉及非易失性存儲器。、半導體存儲器廣泛用于各種電子設備中，諸如蜂窩式電話、數字相機、個人數字助理、醫(yī)用電子器件、移動計算設備、服務器、固態(tài)驅動器、非移動計算設備和其他設備。半導體存儲器可包括非易失性存儲器或易失性存儲器。即使當非易失性存儲器未連接到電源(例如，電池)時，非易失性存儲...

本發(fā)明涉及芯片測試，特別是一種基于分布式架構的高端存儲器芯片異步測試系統(tǒng)。、隨著集成電路制造工藝的持續(xù)演進和高端存儲器芯片架構的日益復雜，現有功能測試方法面臨著前所未有的挑戰(zhàn)。現有的存儲器芯片測試技術通常依賴集中式測試控制體系，在功能驗證過程中通過靜態(tài)任務調度與串行測試流程來執(zhí)行芯片各功能...

本技術涉及光碟盒，具體是一種帶有防護結構的bd光碟盒。、bd光碟也稱藍光光碟，是dvd之后下一時代的高畫質影音儲存光盤媒體，利用波長較短的藍色激光讀取和寫入數據，并因此而得名。藍光極大地提高了光盤的存儲容量，對于光存儲產品來說，藍光提供了一個跳躍式發(fā)展的機會。、bd光碟盒，是一種用來儲存b...

本申請涉及計算機，具體而言，涉及一種內存測試電路、內存控制器及微處理器架構。、在現代計算機技術中，內存的健康狀態(tài)直接決定計算機系統(tǒng)的整體表現和穩(wěn)定性，因此，確保內存在使用前經過充分測試，確保內存可靠性，是保障系統(tǒng)正常運行的關鍵。、相關技術通過專用的內存測試軟件對內存進行測試，比如memte...

本公開的多種實施例涉及存儲器和存儲器系統(tǒng)。、在半導體存儲器產業(yè)的早期階段，在通過半導體制造工藝制成的存儲器芯片中多個原本完好、具有無缺陷存儲單元的裸片被分布在晶片上。然而，隨著存儲器容量的逐漸增大，制造不具有任何缺陷存儲單元的存儲器變得越來越困難，如今可以說，幾乎沒有機會能夠制造出這樣的存...

本公開的實施例涉及一種在故障存儲器單位中設置故障標志的存儲器系統(tǒng)以及操作方法。、在易失性存儲器（例如，sram或dram）中，所存儲的數據在電力供應切斷時丟失，而在非易失性存儲器（例如，nand閃存、pram或mram）中，即使在電力供應切斷時，所存儲的數據也會保留。、在制造過程中或在使用...

本發(fā)明構思涉及半導體存儲器件，并且更具體地，涉及非易失性存儲器件、其編程方法、以及這種編程方法中的異常檢測。、半導體存儲器件的類型可以包括易失性存儲器件和非易失性存儲器件。、非易失性存儲器件即使在電源切斷的同時也能保留所存儲的數據。因此，使用非易失性存儲器件來保存必須保留的內容，無論是否供...

本發(fā)明涉及電路設計技術，尤其涉及磁芯隨機存儲器讀參考電路設計方法及系統(tǒng)。、磁芯隨機存儲器(mram)作為新型非易失性存儲技術，因其高速度、低功耗、無限寫入壽命和良好的集成能力而受到廣泛關注。在磁芯隨機存儲器中，讀取操作的可靠性直接影響存儲器整體性能，而讀參考電路設計是保證讀取操作準確性的關...