本公開涉及光設(shè)備。、以往,提出了用光束來(lái)掃描場(chǎng)景并檢測(cè)來(lái)自場(chǎng)景中包含的對(duì)象物的反射光來(lái)計(jì)測(cè)到對(duì)象物的距離的各種設(shè)備(例如,參照專利文獻(xiàn)及)。、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)、專利文獻(xiàn)、專利文獻(xiàn):日本特開-號(hào)公報(bào)、專利文獻(xiàn):美國(guó)專利申請(qǐng)公開第/號(hào)說(shuō)明書技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路、發(fā)明要解決的課題、本公開的目的是提供一種能夠...