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傳感器和電子設(shè)備的制作方法

文檔序號:42207774發(fā)布日期:2025-06-20 18:48閱讀:130來源:國知局

本技術(shù)涉及mems,特別涉及一種傳感器以及應(yīng)用該傳感器的電子設(shè)備。


背景技術(shù):

1、mems(micro-electro-mechanical?system,微機(jī)電系統(tǒng))技術(shù)是近年來高速發(fā)展的一項(xiàng)高新技術(shù),它采用先進(jìn)的半導(dǎo)體制造工藝,實(shí)現(xiàn)傳感器、驅(qū)動器等器件的批量制造,與對應(yīng)的傳統(tǒng)器件相比,mems器件在體積、功耗、重量以及價格方面有十分明顯的優(yōu)勢。

2、隨著科技的高速發(fā)展,電子設(shè)備(例如手機(jī)、耳機(jī)、電腦)的應(yīng)用越來越廣泛。電子設(shè)備對潔凈度要求較高,為保證主板電路清潔,smd后會有清洗要求,而為了達(dá)到完美的清洗效果,往往在水中加入表面活性劑,達(dá)到進(jìn)一步清除有機(jī)化合物的作用。

3、相關(guān)技術(shù)中,電子設(shè)備的主板貼裝上mems器件后,mems器件有透氣孔,清洗時會有水進(jìn)入,表面活性劑起泡后由于超聲震蕩作用會爆破,爆破瞬間會對mems膜/金線產(chǎn)生巨大沖擊力,會造成mems膜破裂、金線斷裂等問題,導(dǎo)致mems器件測試不準(zhǔn)確,甚至失去測試功能,最終影響客戶終端應(yīng)用評估失效。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的主要目的是提供一種傳感器和電子設(shè)備,旨在解決清洗過程中能夠避免出現(xiàn)失效問題,該傳感器能夠有效保護(hù)mems芯片及金線,提高可靠性和產(chǎn)品性能。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提出一種傳感器,所述傳感器包括:

3、殼體,所述殼體包括基板和外殼,所述基板和所述外殼圍合形成容腔,所述基板或所述外殼設(shè)有連通所述容腔的聲孔;

4、芯片組件,所述芯片組件設(shè)于所述容腔內(nèi),并通過第一金線與所述基板電連接,所述芯片組件設(shè)有敏感區(qū)域;

5、封裝層,所述封裝層設(shè)于所述容腔內(nèi),并包裹所述第一金線,所述封裝層與所述敏感區(qū)域圍合形成感應(yīng)槽;及

6、防護(hù)層,所述防護(hù)層封堵所述感應(yīng)槽的槽口,并與所述敏感區(qū)域相對。

7、在一實(shí)施方式中,所述芯片組件設(shè)于所述基板,所述外殼設(shè)有所述聲孔,所述封裝層填充于所述容腔內(nèi),所述封裝層包裹所述第一金線和所述芯片組件的周緣,并與所述敏感區(qū)域圍合形成所述感應(yīng)槽;

8、其中,所述封裝層和所述防護(hù)層與所述外殼圍合形成連通所述聲孔的聲腔。

9、在一實(shí)施方式中,所述封裝層形成有支撐臺,所述支撐臺環(huán)繞所述敏感區(qū)域設(shè)置,以圍合形成所述感應(yīng)槽,所述防護(hù)層的周緣與所述支撐臺連接,以封堵所述感應(yīng)槽的槽口,并與所述敏感區(qū)域相對。

10、在一實(shí)施方式中,所述防護(hù)層連接并支撐于所述支撐臺背向所述芯片組件的一側(cè);

11、且/或,所述防護(hù)層與所述支撐臺之間設(shè)有粘結(jié)層,所述粘結(jié)層由粘結(jié)膠形成。

12、在一實(shí)施方式中,所述防護(hù)層為防水透氣膜;

13、且/或,所述封裝層的材質(zhì)為環(huán)氧樹脂。

14、在一實(shí)施方式中,所述外殼為金屬外殼;

15、且/或,所述外殼與所述基板之間焊接或采用導(dǎo)電膠粘接;

16、且/或,所述基板面向所述容腔的一側(cè)設(shè)有第一焊盤,所述第一金線與所述第一焊盤焊接連接;

17、且/或,所述基板背向所述容腔的一側(cè)設(shè)有第二焊盤,所述第二焊盤用于與外部電路連接。

18、在一實(shí)施方式中,所述芯片組件包括mems芯片和asic芯片,所述asic芯片通過所述第一金線與所述基板電連接,所述mems芯片通過第二金線與所述asic芯片電連接,所述mems芯片設(shè)有所述敏感區(qū)域;

19、其中,所述封裝層包裹所述第一金線和所述第二金線。

20、在一實(shí)施方式中,所述mems芯片和所述asic芯片間隔設(shè)于所述基板,所述mems芯片和所述asic芯片均通過膠層與所述基板連接。

21、在一實(shí)施方式中,所述asic芯片設(shè)于所述基板,并通過膠層與所述基板連接,所述mems芯片堆疊設(shè)于所述asic芯片背向所述基板的一側(cè),并通過膠層與所述asic芯片連接。

22、本實(shí)用新型還提出一種電子設(shè)備,所述電子設(shè)備包括上述所述的傳感器。

23、本實(shí)用新型技術(shù)方案的傳感器通過將殼體設(shè)置為基板和外殼,利用基板和外殼圍合形成容腔,從而方便利用容腔安裝、固定和保護(hù)芯片組件,且在基板或外殼設(shè)有連通容腔的聲孔,使得外界氣流或聲音順利通過聲孔進(jìn)入容腔,從而方便芯片組件進(jìn)行檢測或感應(yīng);同時,通過在容腔內(nèi)設(shè)置封裝層和防護(hù)層,利用封裝層包裹所述第一金線,且利用封裝層與芯片組件的敏感區(qū)域圍合形成感應(yīng)槽,并利用防護(hù)層封堵感應(yīng)槽的槽口,并與敏感區(qū)域相對,如此可利用封裝層實(shí)現(xiàn)對第一金線的保護(hù),且配合防護(hù)層進(jìn)一步保護(hù)芯片組件的敏感區(qū)域,如此在清洗過程中,清洗劑和水通過聲孔進(jìn)入容腔內(nèi),由于封裝層和防護(hù)層的配合,可有效防止水和氣泡直接接觸芯片組件的敏感區(qū)域,以及在氣泡爆破后導(dǎo)致敏感區(qū)域破裂或形變、金線斷裂等現(xiàn)象,從而實(shí)現(xiàn)保護(hù)芯片組件的敏感區(qū)域和金線,避免性能變差或失效以及影響產(chǎn)品性能,提高可靠性和產(chǎn)品性能。



技術(shù)特征:

1.一種傳感器,其特征在于,所述傳感器包括:

2.如權(quán)利要求1所述的傳感器,其特征在于,所述芯片組件設(shè)于所述基板,所述外殼設(shè)有所述聲孔,所述封裝層填充于所述容腔內(nèi),所述封裝層包裹所述第一金線和所述芯片組件的周緣,并與所述敏感區(qū)域圍合形成所述感應(yīng)槽;

3.如權(quán)利要求2所述的傳感器,其特征在于,所述封裝層形成有支撐臺,所述支撐臺環(huán)繞所述敏感區(qū)域設(shè)置,以圍合形成所述感應(yīng)槽,所述防護(hù)層的周緣與所述支撐臺連接,以封堵所述感應(yīng)槽的槽口,并與所述敏感區(qū)域相對。

4.如權(quán)利要求3所述的傳感器,其特征在于,所述防護(hù)層連接并支撐于所述支撐臺背向所述芯片組件的一側(cè);

5.如權(quán)利要求1所述的傳感器,其特征在于,所述防護(hù)層為防水透氣膜;

6.如權(quán)利要求1所述的傳感器,其特征在于,所述外殼為金屬外殼;

7.如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的傳感器,其特征在于,所述芯片組件包括mems芯片和asic芯片,所述asic芯片通過所述第一金線與所述基板電連接,所述mems芯片通過第二金線與所述asic芯片電連接,所述mems芯片設(shè)有所述敏感區(qū)域;

8.如權(quán)利要求7所述的傳感器,其特征在于,所述mems芯片和所述asic芯片間隔設(shè)于所述基板,所述mems芯片和所述asic芯片均通過膠層與所述基板連接。

9.如權(quán)利要求7所述的傳感器,其特征在于,所述asic芯片設(shè)于所述基板,并通過膠層與所述基板連接,所述mems芯片堆疊設(shè)于所述asic芯片背向所述基板的一側(cè),并通過膠層與所述asic芯片連接。

10.一種電子設(shè)備,其特征在于,所述電子設(shè)備包括如權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的傳感器。


技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開一種傳感器和電子設(shè)備,涉及MEMS技術(shù)領(lǐng)域,該傳感器包括殼體、芯片組件、封裝層及防護(hù)層,所述殼體包括基板和外殼,所述基板和所述外殼圍合形成容腔,所述基板或所述外殼設(shè)有連通所述容腔的聲孔,所述芯片組件設(shè)于所述容腔內(nèi),并通過第一金線與所述基板電連接,所述芯片組件設(shè)有敏感區(qū)域,所述封裝層設(shè)于所述容腔內(nèi),并包裹所述第一金線,所述封裝層與所述敏感區(qū)域圍合形成感應(yīng)槽,所述防護(hù)層封堵所述感應(yīng)槽的槽口,并與所述敏感區(qū)域相對。本技術(shù)旨在解決清洗過程中能夠避免出現(xiàn)失效問題,該傳感器能夠有效保護(hù)MEMS芯片及金線,提高可靠性和產(chǎn)品性能。

技術(shù)研發(fā)人員:于文秀,閆文明
受保護(hù)的技術(shù)使用者:歌爾微電子股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日:20240813
技術(shù)公布日:2025/6/19
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